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￥19,778（税込）
／￥16,811（税抜き）
販売単位：1本
お申込番号：NIVSG49676342 ／メーカー：はじめての半導体計測★ビギナーズブックス★水野 ／型番：31164264 ／JANコード：0705080229798 ／アズワン／ナビス品番：
| お申込番号 | NIVSG49676342 |
|---|---|
| メーカー | はじめての半導体計測★ビギナーズブックス★水野 |
| 型番 | 31164264 |
| JANコード | 0705080229798 |
| 販売単位 | 1本 |
| 価格 | ￥19,778（税込） ／￥16,811（税抜き） |
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| 商品の特徴 | はじめての半導体計測★ビギナーズブックス★水野 文夫★株式会社 工業調査会★絶版★商品説明はじめての半導体計測 (ビギナーズブックス) 単行本 水野 文夫 (著) 株式会社 工業調査会 ★絶版本★ 2008/3/25 初版1刷発行 品です。 内容（「BOOK」データベースより） 計測の中で、半導体デバイスの研究・開発・製造に用いられる観測技術を「半導体計測」という。半導体デバイスが現在のIT(情報技術)時代・ユビキタス社会(どこにでもコンピュータが存在する社会)を支える土台であるとするならば、半導体計測はその土台を下支えする基礎になり、歩留まり向上などにも重要な役割を果たす。本書は、こうした半導体計測技術の基礎から各手法の内容、またケースごとの半導体計測の原理やポイントについて詳細に解説。 著者略歴 (「BOOK著者紹介情報」より) 水野/文夫 明星大学・理工学部教授、工学博士、技術士(電気電子)。1970年、名古屋大学大学院・電子工学専攻・修士課程修了、(株)日立製作所勤務を経て2001年より明星大学に勤務。1995年R&D 100 Award(USA)、1996年市村賞受賞(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです) 目次 第1章 計測(計測とは 計測の機能 計測の性能 トレーサビリティ) 第2章 半導体計測(半導体計測の種類 半導体計測の特徴 半導体計測の手法) 第3章 主な半導体計測(パターン寸法・LER(LWR)・形状の観測 微粒子・パターン欠陥の検査 膜厚の測定 ウエーハ表面汚染物質の分析 補足:既成概念からの脱却…超高エネルギー電子ビームの使用) 1703 注意事項カバーにスレあり。カバーの淵にヨレあり。カバーにやや折れあり。書き込み等は無く状態良好です。ノークレーム、ノーリターンでお願いします。 書き込みや線引き等を事前にチェックしておりますが、もし多少の見落としがございましてもご容赦下さい。品であるということをご理解の上、ご入札ください。 入札後のキャンセルはお断り致します。希少品の場合、定価より高価になっていることがありますが、ご検討の上ご購入ください。 落札金額＋送料＝お |
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| メーカー名 | 泽田志瑠葉 | ブランド名 | はじめての半導体計測★ビギナーズブックス★水野 |
| 備考 | 【返品について】お客様のご都合による返品はお受けできません。 | ||
| 商品詳細情報 |
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